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Bei den heutigen immer schnelleren digitalen Schaltungen, bekommen Laufzeitverzögerungsfehler eine immer größere Bedeutung. In dieser Arbeit wird ein Verfahren zum Test von digitalen Schaltkreisen auf derartige Fehler vorgestellt. Als zu testende Systeme wurden hierbei hauptsächlich Bussysteme betrachtet. Sie enthalten oft parallel verlaufende Signalleitungen, die sich auf Grund verschiedener Effekte gegenseitig in ihrem Schaltverhalten beeinflussen können. Diese so genannten Crosstalk-Effekte wurden im Speziellen berücksichtigt. Als Grundlage für die Testgenerierung dient der Broadside-Ansatz.

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studierte zwischen 2001 und 2007 Informations- und Medientechnik an der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus. Seit 2007 ist er als wissenschaftlicher Mitarbeiter am Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik (IHP) in Frankfurt(Oder) im Bereich Hardwareentwicklung der Abteilung System-Design tätig.

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