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Dieses Fachbuch behandelt moderne Verfahren zur Charakterisierung von Dünnschicht-Solarzellen. Diese Verfahren sind für die Photovoltaik-Forschung und -Entwicklung relevant, sowohl im wissenschaftlichen Bereich als auch bei Unternehmen. Nach einer Einführung in die Dünnschicht-Photovoltaik erläutern Experten Methoden für die Geräte- und Materialcharakterisierung, wie die Elektrolumineszenz-Analyse, die Kapazitätsspektroskopie sowie verschiedene mikroskopische Verfahren. Am Ende des Buches werden Simulationstechniken vorgestellt, die für ab-initio-Berechnungen entsprechender Halbleiter und für Gerätesimulationen in bis zu 3 Dimensionen verwendet werden.
Diese neue Auflage baut auf einem bewährten Konzept auf und beschäftigt sich auch mit transienten optoelektronischen Methoden und der Fotostrom-Spektroskopie, der Charakterisierung des Dünnschichtwachstums in Echtzeit und vor Ort sowie mit Simulationen auf Basis der Molekulardynamik.

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The book focuses on advanced characterization methods for thin-fi lm solar cells that have proven their relevance both for academic and corporate photovoltaic
research and development. After an introduction to thin-fi lm photovoltaics, renowned experts report on device and materials characterization methods such as electroluminescence analysis, capacitance spectroscopy, and various microscopy methods. In the final part of the book simulation techniques are presented which are
used for ab-initio calculations of relevant semiconductors and for device simulations in one, two, and three dimensions.

Building on a proven concept, this new edition also covers transient optoelectronic methods, absorption and photocurrent spectroscopy, in-situ realtime characterization of thin-fi lm growth, as well as simulations based on molecular dynamics.

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Volume 1
INTRODUCTION
Introduction to Thin-Film Photovoltaics
DEVICE CHARACTERIZATION
Fundamental Electrical Characterization of Thin-Film Solar Cells
Electroluminescence Analysis of Solar Cells and Solar Modules
Capacitance Spectroscopy of Thin-Film Solar Cells
Time-of-Flight Analysis
Transient Optoelectronic Characterization of Thin-Film Solar Cells
Steady-State Photocarrier GratingMethod
MATERIALS CHARACTERIZATION
Absorption and Photocurrent Spectroscopy with High Dynamic Range
Spectroscopic Ellipsometry
Characterizing the Light-Trapping Properties of Textured Surfaces with Scanning Near-Field OpticalMicroscopy
Photoluminescence Analysis of Thin-Film Solar Cells
Electron-Spin Resonance (ESR) in Hydrogenated Amorphous Silicon (a-Si:H)
Scanning ProbeMicroscopy on Inorganic Thin Films for Solar Cells
Electron Microscopy on Thin Films for Solar Cells
X-ray and Neutron Diffraction on Materials for Thin-Film Solar Cells
Volume 2
In Situ Real-Time Characterization of Thin-Film GrowthRaman Spectroscopy on Thin Films for Solar Cells
Soft X-ray and Electron Spectroscopy: A Unique "Tool Chest" to Characterize the Chemical and Electronic Properties of Surfaces and Interfaces
Accessing Elemental Distributions in Thin Films for Solar Cells
Hydrogen Effusion Experiments
MATERIALS AND DEVICE MODELING
Ab Initio Modeling of Defects in Semiconductors
Molecular Dynamics Analysis of Nanostructures
One-Dimensional Electro-Optical Simulations of Thin-Film Solar Cells
Two- and Three-Dimensional ElectronicModeling of Thin-Film Solar Cells
Index

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