---

La présent ouvrage a pour objectif l´analyse et la caractérisation des surfaces et interfaces de trois types de matériaux, en l´occurrence le verre optique, l´acier, le silicium et quelques dépôts de couches minces sur substrats. Il s´agit d´utiliser des méthodes de caractérisation optiques et exploiter les propriétés optiques en corrélation avec l´état de surface. Comme la connaissance de l´état de surface d´un élément ou d´un composant optique ou optoélectronique est indispensable pour atteindre la fonctionnalité voulue, les états de surfaces continuent toujours d´être considérés comme un domaine de recherche appliquée très important. Pour atteindre cet objectif on a réservé une partie à l´étude théorique du phénomène et les aspects mathématiques décrivant les paramètres de surface et l´interaction lumière-matière. Quant aux techniques utilisées, on a appliqué les techniques de diffusion de la lumière, l´ellipsométrie, l´interférométrie optique à décalage de phase et la microscopie à contraste interférentiel. Ce spectre de technique est très complémentaire et reflète le caractère expérimental de cet ouvrage.

---