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Neuerscheinungen 2018

Stand: 2020-02-01
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Thomas Luhmann, Christina Schumacher (Beteiligte)

Photogrammetrie - Laserscanning - Optische 3D-Messtechnik


Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2018
Herausgegeben von Luhmann, Thomas; Schumacher, Christina
2018. X, 369 S. 240 mm
Verlag/Jahr: WICHMANN 2018
ISBN: 3-87907-643-X (387907643X)
Neue ISBN: 978-3-87907-643-7 (9783879076437)

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Das Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth veranstaltet vom 31.01. bis 01.02.2018 die 17. Oldenburger 3D-Tage. Diese Veranstaltung bildet eine wichtige Plattform für Fachleute aus den Bereichen Photogrammetrie, Geodäsie und industrieller Messtechnik; mit ca. 230 Teilnehmern gilt sie als eine der wichtigen Veranstaltungen in diesem Bereich. Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren für die Themengebiete Photogrammetrie, Laserscanning und optische 3D-Messtechnik die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form an anderer Stelle kaum zu finden sind. Aus dem Inhalt: Dynamische Prozesse, Oberflächenerfassung und Modellierung, Navigation von Objekten und Sensoren, Mobile Systeme und Plattformen, Neue Sensoren und Systeme, Messunsicherheit und Standardisierung, Kalibrierung und Orientierung.
Das Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth veranstaltete vom 31.01. bis 01.02.2018 die 17. Oldenburger 3D-Tage. Diese Veranstaltung bildet eine wichtige Plattform für Fachleute aus den Bereichen Photogrammetrie, Geodäsie und industrieller Messtechnik; mit ca. 230 Teilnehmern gilt sie als eine der wichtigen Veranstaltungen in diesem Bereich. Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren für die Themengebiete Photogrammetrie, Laserscanning und optische 3D-Messtechnik die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form an anderer Stelle kaum zu finden sind. Aus dem Inhalt: Dynamische Prozesse, Oberflächenerfassung und Modellierung, Navigation von Objekten und Sensoren, Mobile Systeme und Plattformen, Neue Sensoren und Systeme, Messunsicherheit und Standardisierung, Kalibrierung und Orientierung.