Neuerscheinungen 2019Stand: 2020-02-01 |
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Fernando Puente León, Fernando Puente León
(Beteiligte)
Messtechnik
Grundlagen, Methoden und Anwendungen
11. Aufl. 2019. xvi, 481 S. 7 SW-Abb., 234 Farbabb. 240 mm
Verlag/Jahr: SPRINGER, BERLIN; SPRINGER VIEWEG 2019
ISBN: 3-662-59766-7 (3662597667)
Neue ISBN: 978-3-662-59766-8 (9783662597668)
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Dieses Lehrbuch bietet eine systematische Einführung in die moderne Messtechnik. Dabei werden die methodischen Gemeinsamkeiten von Messsystemen in den Vordergrund gestellt. Der Inhalt des Buches umfasst
- die mathematische Beschreibung des physikalischen Verhaltens von Messsystemen
- die Verbesserung der statischen und dynamischen Eigenschaften von Messsystemen
- die Messung von stochastischen Größen und Signalen
- die rechnergestützte Messdatenerfassung und -verarbeitung
- die Frequenz- und Drehzahlmessung sowie
- die Schätzung von Parametern aus Messsignalen.
Die 11. Auflage wurde neu bearbeitet und inhaltlich ergänzt. Das Buch ist in sich geschlossen und so aufgebaut, dass sich der Leser den Stoff leicht selbst aneignen kann.
Der Inhalt
Messsysteme und Messfehler - Kurvenanpassung - Stationäres Verhalten von Messsystemen - Zufällige Messfehler - Dynamisches Verhalten von Messsystemen - Stochastische Signale - Erfassung analoger Signale - Frequenz- und Drehzahlmessung - Parameterschätzung
Die Zielgruppen
Das Werk richtet sich an Studierende der Ingenieurwissenschaften und der Informatik sowie an Ingenieure in der Praxis.
Messsysteme und Messfehler.- Kurvenanpassung.- Stationäres Verhalten von Messsystemen.- Zufällige Messfehler.- Dynamisches Verhalten von Messsystemen.- Messung stochastischer Signale.- Erfassung analoger Signale.- Frequenz- und Drehzahlmessung.
Prof. Dr.-Ing. Fernando Puente León lehrt und forscht am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) und leitet dort das Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT). Nach Studium und Promotion war er in der Industrie im Bereich der Informations- und Kommunikationstechnik tätig. Von 2003 bis 2008 hatte er eine Professur für Verteilte Messsysteme an der Technischen Universität München inne. Seine Forschungsschwerpunkte liegen in der Mess- und Automatisierungstechnik, der Bild- und Signalverarbeitung, der Mustererkennung und der Informationsfusion.