Neuerscheinungen 2013Stand: 2020-01-07 |
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Bernd vom Berg, Peter Groppe, Bernd Vom Berg
(Beteiligte)
LabVIEW
Arrays und serielle Daten
2013. 248 S. 23,5 cm
Verlag/Jahr: ELEKTOR-VERLAG 2013
ISBN: 3-89576-274-1 (3895762741)
Neue ISBN: 978-3-89576-274-1 (9783895762741)
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Der zweite Band der LabVIEW-Lehrbuchreihe beschäftigt sich u.a. mit Arrays, Cluster und den seriellen VISA-Funktionen. Als Erstes werden vier neue zusammengesetzte Datentypen (Enum, Ring, Array, Cluster) vorgestellt und deren Verwendung wird anhand zahlreicher praktischer Beispiele und Übungen erläutert.
Enum, Ring, Arrays, Cluster und die seriellen VISA-Funktionen das sind nur einige der herausragenden Themengebiete, mit denen sich der zweite Band der LabVIEW-Lehrbuchreihe beschäftigt.
Als Erstes werden vier neue zusammengesetzte Datentypen (Enum, Ring, Array, Cluster) vorgestellt und deren Verwendung anhand zahlreicher praktischer Beispiele und Übungen erläutert. Danach wird es praktisch: Ein 8051er-Mikrocontrollersystem dient als Datenquelle und -senke für verschiedene LabVIEW-VIs, die einerseits beliebige Messdaten empfangen, auswerten und die Ergebnisse numerisch oder grafisch auf dem Rechner-Monitor darstellen. Anderseits können sie auch Steueranweisungen an das Mikrocontrollersystem ausgeben.
Der gesamte Datentransfer zwischen Mikrocontroller und LabVIEW-VI läuft dabei über serielle COM-Schnittstellen oder mittels USB/Seriell-Adapter über USB-Ports. Da alle VIs universell aufgebaut und ausführlich erklärt werden, lassen sie sich problemlos mit anderen Mikrocontrollerboards (AVR-, PIC-, ARM-, Arduino-, Raspberry Pi-Systeme, E-blocks) kombinieren, sofern diese über eine serielle Schnittstelle verfügen.
Als Abschluss werden in zwei Projekten detailliert komplette LabVIEW-VIs entwickelt, mit denen zwei vom Mikrocontroller erfasste Temperaturmesswerte (Innen- und Außentemperatur) numerisch und graphisch dargestellt werden.
Da alle VIs, das Mikrocontroller-C-Programm und das serielle Datenübertragungsformat offen gelegt werden, ist eine individuelle Anpassung an die Verarbeitung anderer Messwerte bzw. an die Ausgabe verschiedenster Steueranweisungen und an die Verwendung anderer Mikrocontrollersysteme sehr einfach möglich.