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Ce projet a porté sur la synthèse du matériau massif quaternaire CZTS par le biais de la méthode de Bridgman horizontale et l élaboration des couches minces dudit matériau par la technique d évaporation thermique sous vide. Au cours de ce travail, trois méthodes d analyse ont été adoptées dans le but d effectuer la caractérisation structurale, optique et électrique des couches minces de CZTS à savoir la diffraction des rayons X, la spectrométrie UV-Vis ainsi que la méthode de la pointe chaude. La caractérisation structurale a porté sur la détermination des phases cristallines présentes dans les couches élaborées à des températures de substrats variées ainsi que des paramètres de maille selon la méthode cristallographique classique et la méthode de Nelson-Riley. La caractérisation optique a concerné la détermination des constantes optiques telles que le coefficient d absorption optique ainsi que le gap optique et leur évolution en fonction de la température des substrats. La caractérisation morphologique a concerné le calcul de la rugosité des couches alors que la caractérisation électrique a porté sur la détermination du type de conductivité des diverses couches minces de CZTS.

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