Neuerscheinungen 2019Stand: 2020-02-01 |
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Ludwig J. Balk, Rochus Blaschke, Peter Fr. Schmidt
(Beteiligte)
Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, m. CD-ROM
Von Peter Fr. Schmidt, Ludwig J. Balk, Rochus Blaschke u. a.
2., überarb. Aufl. 2019. 800 S. 23.4 cm
Verlag/Jahr: EXPERT-VERLAG 2019
ISBN: 3-8169-1038-6 (3816910386) / 3-8169-1597-3 (3816915973)
Neue ISBN: 978-3-8169-1038-1 (9783816910381) / 978-3-8169-1597-3 (9783816915973)
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Der Themenband vermittelt Kenntnisse über den Aufbau und die Funktionsweise von Rasterelektronenmikroskopen, informiert über die Vielfalt der Abbildungsmöglichkeiten, gibt praxisbezogen Hinweise auf die Optimierung der Geräteeinstellung für eine optimale Abbildung, führt in die Verfahren zur qualitativen und quantitativen Mikrobereichsanalyse ein, gibt eine Übersicht über Verfahren zur Oberflächenanalytik, informiert über alternative Rastermethoden, gibt Tipps für die Präparation und Beschichtung von Proben, zeigt Einsatzmöglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie für Schadensfalluntersuchungen an Metallen, Keramiken und Polymeren, informiert über die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie in der Halbleitertechnologie und informiert über Zusatzgeräte zur Erweiterung des Einsatzbereiches von REM.
"Das im Buch abgehandelte Wissensgebiet ist sehr umfangreich, das Werk zeichnet sich jedoch dadurch aus, dass auch dem Praktiker und Autodidakten die Materie durch systematischen Aufbau des Lehrstoffes nahegebracht wird."Material and Corrosion "Das Buch ist in seiner Gesamtheit ein Muss für alle Anwender und Interpreten rasterelektronenmikroskopischer und mikroanalytischer Untersuchungsmethoden und ist darüber hinaus ein Nachschlagewerk für alle, die sich auch mit der Theorie dieser Geräte näher befassen wollen."Zeitschrift für Metallkunde